Abstract
Voor de depositie van dunne films van bijvoorbeeld
silicium worden meestal depositietechnieken
gebruikt waarbij de brongassen
ontleed worden doordat versnelde deeltjes
in een plasma met de brongassen botsen. Zo
worden de atoombindingen in de gasmoleculen
verbroken en kunnen de reactieproducten
zich binden aan een substraat en vormen
een dunne film. Een alternatieve methode is
chemische damp depositie door gasontleding
aan hete draden (in het Engels: Hot Wire
Chemical Vapor Deposition, HWCVD).
Deze depositietechniek komt tegenwoordig
steeds meer in de belangstelling. Dit komt
doordat de ontleding van de brongassen aan
de draden katalytisch is en dus zeer snel en
efficiënt verloopt. De snelle ontleding zorgt
voor een grote flux van reactieproducten naar
het substraat en resulteert in een zeer hoge
depositiesnelheid van de dunne films. Dit
is voor micro-elektronica en fotovoltaïsche
technologie van groot belang om proceskosten
zo laag mogelijk te houden. Doordat de
techniek geen gebruik maakt van een plasma
zijn er ook geen plasma gerelateerde nadelen,
terwijl ze gelijkwaardige dunne films oplevert.
In het Utrechts zonnecellaboratorium (In het
Engels: Utrecht Solar Energy Laboratorium,
USEL) wordt onder andere onderzoek gedaan
naar dunne film silicium nitride met de HWCVD
methode. Wij geven hier een overzicht
van de belangrijkste materiaaleigenschappen
van dunne film silicium nitride gemaakt met
HWCVD, en enkele toepassingen in de micro-
elektronica en fotovoltaïsche technologie.
Original language | Undefined/Unknown |
---|---|
Pages (from-to) | 6-11 |
Number of pages | 6 |
Journal | Nevac blad |
Volume | 46 |
Publication status | Published - 2009 |